时间:2024-02-26 03:56:32来源:
tem是透射电子显微镜的英文缩写,是一种用于材料组织和晶体学研究的高分辨率显微镜。
tem能够通过电子束的传输和散射,获取材料内部的结构和成分信息。
xrd是x射线衍射,可以分析物相,SEM是扫描电镜,主要是观察显微组织,TEM是透射电镜,主要观察超限微结构。
AES是指能谱,主要分析浓度分布。
STM扫描隧道显微镜,也是观察超微结构的。
AFM是原子力显微镜,主要是观察表面形貌用的-----回答的不是很全。
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